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焊料凸点（Solder Bump）和铜柱凸点（Cu Pillar）的核心区别在于结构设计、性能特性和应用场景：焊料凸点以焊料（如SnAgCu）为主体，工艺简单但易塌陷；铜柱凸点以纯铜柱为核心，顶部覆盖焊料帽，电阻低且稳定性高，适合高密度互连。‌

结构与工艺差异
焊料凸点（Solder Bump）‌。
结构‌：主体为焊料（如Sn96.5Ag3.0Cu0.5），底部有薄层UBM（Under Bump Metallization，如Ti/Cu/Ni）。‌
工艺‌：通过电镀、印刷或蒸发形成焊料层，回流后成型。步骤简单，成本较低。‌
铜柱凸点（Cu Pillar）‌。
结构‌：核心为纯铜柱（高度30–60μm），顶部覆盖焊料帽（如SnAgCu），底部有UBM（如Ti/TiW/Cu）。‌
工艺‌：需电镀厚铜柱，再添加焊料帽，工艺复杂但精度高。‌
性能对比
电学与热学性能‌。
电阻‌：铜柱凸点电阻比焊料凸点低8–12倍，适合高速信号（如SerDes、AI芯片）。‌
导热性‌：铜柱导热性更优，减少热点风险。‌
机械可靠性‌。
塌陷性‌：焊料凸点回流后易塌陷（高度变化大），导致连接不稳定；铜柱高度固定，抗变形能力强。‌
抗电迁移‌：铜柱抗电迁移性更强，寿命更长（焊料在高温下易失效）。‌
尺寸与密度‌。
高宽比‌：焊料凸点限制高宽比（<1.2），铜柱可达>1.2，支持更小间距（≤50μm）。‌
I/O密度‌：铜柱适合>1000个/mm²高密度场景（如HBM内存）。‌
优缺点与应用场景
焊料凸点‌。
优点‌：工艺成熟，成本低（单点成本约$0.0005–0.001）。‌‌
缺点‌：易氧化、高频性能差，不适用于高电流。‌
应用‌：传统Flip Chip、消费电子（如IoT芯片）。‌
铜柱凸点‌。
优点‌：稳定性高，支持细间距和高可靠性。‌
缺点‌：成本较高（单点成本约$0.001–0.003），工艺复杂。‌
应用‌：高性能计算（CPU/GPU）、5G通信、Chiplet封装。‌